Les equipements du cmeba

Le C.M.E.B.A. dispose de deux microscopes électroniques à balayage et d'un microscope numérique

JEOL JSM 7100 F EDS EBSD Oxford

 

Caractéristiques Techniques :

- Source à émission de champ (SEM FEG) type Schottky
- Résolutions : 2nm à 1kV - 1.6nm à 5kV - 1.2nm à 15kV
- Courant de sonde de 1pA à 600nA
- Mesure de courant intégré
- Détecteur d'électrons secondaires type Everhart-Thornley
- Détecteur d'électrons rétrodiffusés aux faibles angles (SRBEI)
- Détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés in-lens
- Détecteur EDS SDD X-Max 50mm2 Oxford Instruments AZtecEnergy
- Détecteur EBSD AZtec HKL Advanced Nordlys Nano équipé de 4 détecteurs FSD couplé à l'EDS
- Date d'acquisition : 2013

Exemples Clichés MEB de couches minces :

Couches Minces

Exemples de Cartographies EBSD :

JEOL IT 300 LA EDS pression variable

 

L'-IT300 LA est un MEB compact multi-applications qui permet de travailler sur tout type d'échantillons : biologiques, minéralogiques, métallurgiques, polymères…Cet appareil est également un outil Analytique il est équipé d’un système à dispersion d'énergie pour l’analyse élémentaire.L’imagerie MEB en pression variable (ou LV pour "low vacuum") permet d’observer des échantillons isolants sans métallisation préalable. Elle peut être utilisée pour des échantillons sensibles au vide ou que l’on ne souhaite pas altérer. Les images LV ont un contraste proche des images en électrons secondaires, mais les grandissements utilisés sont plus faibles. L’analyse chimique est possible mais de moins grande précision qu’avec des échantillons métallisés.

Caractéristiques Techniques:

- Source émission : filament de W
- Résolutions : 3nm à 30keV, 15nm à 1keV, 8nm à 3keV
- Détecteur d'électrons secondaires large angle solide
- Détecteur d'électrons rétrodiffusés: type NIP (brevet JEOL)
- Détecteur EDS SDD intégré dans le système
- Masse d'échantillon admissible dans le MEB : jusqu'à 2kg
- Dimensions maximales de l'échantillon : jusqu'à 200 mm de diamètre et 80 mm en hauteur
- Date d'acquisition : 2017

Exemples Clichés MEB de poudre :

Exemples de clichés MEB de pollens réalisés en mode low vaccum :

Microscope Numérique KEYENCE VH-1000

-objectif zoom haute résolution : VH-Z500R

-objectif zoom haute performance ultra compact : VH-Z50R

Exemples :

Cross Section Polisher - JEOL SM 09010

La capacité de créer des sections transversales parfaites de revêtements et de liaisons métalliques, ou de créer une surface en miroir sur des matériaux mous tels que l’or, les polymères, les céramiques et le verre ont grandement amélioré la recherche et l’analyse pour bon nombre de nos clients.

Il utilise un faisceau d’argon pour fraiser des sections transversales ou polir pratiquement tout matériau qui est fixé au porte-échantillon. Pendant le fraisage, l’échantillon est basculé automatiquement pour éviter de créer des stries de faisceau sur la surface en coupe transversale.