Présentation
L’étude de tous types de matériaux (couches minces, nanomatériaux, céramiques, verres, métaux, semi-conducteurs, polymères, etc…) par Microscopie Electronique en Transmission (MET) est le cœur de l’expertise de THEMIS. Cette plateforme de l'Université de Rennes, inaugurée en juillet 2014 (video), regroupe un Microscope Electronique en Transmission équipé de plusieurs appareils d’analyses et des appareils de préparation d’échantillons minces.
Son rôle est de contribuer à la réalisation de projets de recherche académiques ou industriels en fournissant des moyens d’investigations de la matière très performants, ainsi que des compétences humaines.
Les services de THEMIS sont ouverts à l’ensemble des laboratoires de l’Université de Rennes, des laboratoires publics et privés extérieurs, ainsi qu’aux entreprises.
Les utilisateurs s'engagent à mentionner dans leurs travaux, rapports ou publications l'origine des résultats qu’ils doivent à l’activité de la plateforme.
L'expertise de THEMIS
L'expertise de THEMIS réside dans les domaines suivants :
- L'imagerie conventionnelle champ clair et champ sombre (Bright Field BF / Dark Field DF)
- L'imagerie haute résolution (HRTEM)
- La diffraction électronique et la précession électronique (PED)
- La résolution structurale par précession électronique en tomographie (Precession Electron Diffraction Tomography PEDT)
- L'imagerie 3D par tomographie
- L'analyse chimique par EDS (Energie Dispersive Scattering) et EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy)
- La cartographie élémentaire par STEM-EDS et EFTEM (Energy Filtered Transmission Electron Microscopy)
- La préparation d'échantillons minces à partir d'échantillons massifs, de poudres ou de couches minces
- L'étude des matériaux
